Werth*家將X射線掃描成像技術整合到三坐標測量系統(tǒng)，WERTH X射線工業(yè)CT斷層掃描測量儀可實現產品無損可視化準確測量，并可選配光學、光纖、探針、激光掃描等多種傳感器。對工件內外部所有結構尺寸全面的高精密測量，同時可實現工件材質的缺陷分析。